EDX-7000/8000熒光X射線分析受影響一般有兩個原因：

 

　　1、樣品不是硅玻璃，或者硅含量很少。

 

　　2、x射線是否照射在樣品上，一般來說，樣品至少需要1平方毫米的一個平面，x射線要直接照射在這個平面上，玻璃纖維一般是極細(xì)的圓柱。

 

　　x射線熒光定性分析:

 

　　不同元素的EDX-7000/8000熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據(jù)熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉(zhuǎn)動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機(jī)自動識別譜線，給出定性結(jié)果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。首先識別出X射線管靶材的特征X射線和強峰的伴隨線，然后根據(jù)2θ角標(biāo)注剩斜譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源，性質(zhì)等因素，以便綜合判斷。

 

　　定量分析：

 

　　EDX-7000/8000X射線熒光光譜法進(jìn)行定量分析的依據(jù)是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比：

 

　　Ii=IsWi（10.2）

 

　　式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據(jù)式(10.2)，可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法，增量法，內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應(yīng)或共存元素的影響，會給測定結(jié)果造成很大的偏差。所謂基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對X射線熒光強度所造成的影響?；瘜W(xué)組成的變化，會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收，也會改變熒光增強效應(yīng)。